t_icon 연구장비 상세조회

장비정보

품명
전자현미경
식별번호
22570236
품목명(스펙)
전자현미경,SII nanotechnology,JP/SMI3050
운영부서
글로벌융합산업공학과MSDE전공
사용위치
무궁관 707호 메카트로닉실
취득일자
2013-08-30
영문명
Electron microscopes
검색키워드
Electron microscopes, 전자현미경
분류
장비설명
주사이온현미경(집속이온빔) 장치는 고에너지 이온빔을 시료에 조사하여 국부영역에 대한 영상을 고해상도로 얻을 수 있으며, 또한 시료의 원하는 부분을 제거 또는 특정 재료를 증착할 수 있는 가공을 할 수 있다.
장비구성
및
성능
분해능 4nm, 시편대경사도 90, 시편대종류 일반 평판 시편대
사용방법
문의
이용료
0원
유형
장비상태
정상
담당자
연락처
목록

TOP